镀铝膜测厚仪由于其测试原理、技术难度、精度量程范围、使用场合等特殊原因，国内实验仪器厂家开发此产品的并不多，传统的机械测试法精度最高端的也只能到微米级。烟包、食品、医药、车灯等行业涉及的镀铝膜很薄，以埃为单位。精确控制镀铝膜的厚度就需要高精度的镀铝膜测厚仪，1 微米(μm) = 1 000 纳米(nm) = 10000埃，也就是说1纳米等于10埃，可见镀铝膜测厚仪的精度（食品行业镀铝层一般为200-500埃之间）。

镀铝膜测厚仪第一代为数码管显示，第二代为液晶显示，此次推出的HP-CHY-L镀铝膜测厚仪是最新技术的触摸屏显示，为第三代产品，屏幕触控操作，菜单显示。除此之外，与之前的相比有以下六点技术升级。

一、HP-CHY-L镀铝膜测厚仪采用一种新材料探头，该探头对金属材料尤其是铝膜层非常敏感，测试精度由原来的10埃提高到1埃。

二、测试区域内除探头外全部更换为非金属材料，涡流磁场区域没有其他金属，防止干扰。

三、测试垫板选用特殊防静电材料，避免放置铝膜或移动铝膜产生的微小静电。

四、机壳摒弃原来的45钢外加烤漆工艺，使用一次成型的型材，美观高档耐磨，轻便。

五、校准仪器的标准物质原来使用光盘亮面，现在采用稳定性更高的标准铝箔作为标准物质。

六、增加方块电阻显示，埃和方块电阻可自由切换显示，方便不同的标准计量。

以上技术升级均是经过数次的筛选材料，软件测试，试验最终确定的技术方案，保证了镀铝膜测厚仪的超高精度以及稳定性、重复性。

                                        HP-CHY-L镀铝膜测厚仪

该HP-CHY-L镀铝膜测厚仪适用于各种镀铝膜铝层厚度的检测，包括食品烟草软包装铝膜、涡流镀层、蒸发铝膜、微薄金属膜、硅片蒸铝层、 声表面波铝膜、 半导体铝膜、 车灯铝膜、塑料薄膜铝膜等，符合国家标准GB/T4957。铝膜测厚仪利用涡流原理制造，即被测蒸铝层靠近高频激磁磁场时，感应产生涡电流，因而产生涡流磁场，此涡流磁场反作用于原来激磁磁场，阻抗发生变化，然后通过检测电路并进行放大，输出与厚度相对应模拟电压。最终显示厚度。

  该最新升级的HP-CHY-L镀铝膜测厚仪将会凭借其领先的技术广泛应用到超薄铝层的测试领域。